晶体结构测定| X 射线晶体学分析 - Malvern Panalytical
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X 射线晶体学是进行结构测定、Rietveld 分析、全散射和织构分析所依据的基础科学。
测量类型
古希腊人认为Krystalls(晶体)是被冻成冰的光,它非常坚硬,永远无法融化。
后来,晶体学开始成为一门科学,研究晶体的外部对称性,以尝试解释晶体的内部结构。
首先使用X射线衍射(XRD)研究晶体内部并展示晶体中原子周期性排列的是Bragg父子。
如今,X射线晶体学被应用于化学、矿物学和物理学的许多领域。
不仅在所谓的晶体状态(离子、原子或分子的有序位置)下使用,还在没有长程有序周期的非晶和液体状态下使用。
晶体学是进行新结构测定、定量分析(使用Rietveld等方法)、全散射和织构分析等所依据的基础科学。
马尔文帕纳科的XRD软件解决方案粉末XRD数据的晶学体分析所需的步骤全部包括在HighScorePlus软件中:具有不同(非)对称轮廓函数的峰值搜索和峰值用于指标化的实时和倒易空间方法晶胞精修,包括零偏移或样品位移使用索引峰值、全峰形或系统消光分析测定空间群LeBail和Pawley适用于点阵参数精修对称性Explorer包含所有标准和非标准空间群设置集成的正负交替反转法用于发现原子位置差分傅立叶计算用于搜索缺失的原子通过同时修改晶胞和结构数据在空间群之间转换自动标准化非标准空间群设置晶胞减少(Niggli晶胞)和查找常规晶胞结构精修,包括角度和距离计算可进行绘制以呈现结构马尔文帕纳科的XRD仪器解决方案晶体学分析需要高质量的衍射数据。
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技术类型
X射线衍射(XRD)
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